多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响

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多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响
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Influnce of multilayer doping on the one-dimensional photonic crystal defect mode

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采用特征矩阵法计算了一层掺杂、双层掺杂和三层掺杂情况下缺陷模的变化特征，得到了掺杂层数的变化对缺陷模的数目、峰高和半高宽都有明显的影响。一层掺杂时，只出现一个中心缺陷模；双层掺杂和三层掺杂时除了出现中心缺陷模外，在中心缺陷模的两侧还出现了两个对称缺陷模，中心缺陷模的半高宽随掺杂层数的增加而减小。对称缺陷模的峰高和半高宽都随掺杂层数的增加而减小；对称缺陷模的位置随掺杂层数的增加而向中心缺陷模移动。

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引用本文

刘启能,张翠玲,林睿,胡莉.多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响[J].重庆工商大学学报（自然科学版）,2008,(4):
LIU Qi-neng, ZHANG Cui-ling, kiN Rui, HU ki. Influnce of multilayer doping on the one-dimensional photonic crystal defect mode[J]. Journal of Chongqing Technology and Business University(Natural Science Edition）,2008,(4):

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