多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响
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Influnce of multilayer doping on the one-dimensional photonic crystal defect mode
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    采用特征矩阵法计算了一层掺杂、双层掺杂和三层掺杂情况下缺陷模的变化特征,得到了掺杂层数的变化对缺陷模的数目、峰高和半高宽都有明显的影响。一层掺杂时,只出现一个中心缺陷模;双层掺杂和三层掺杂时除了出现中心缺陷模外,在中心缺陷模的两侧还出现了两个对称缺陷模,中心缺陷模的半高宽随掺杂层数的增加而减小。对称缺陷模的峰高和半高宽都随掺杂层数的增加而减小;对称缺陷模的位置随掺杂层数的增加而向中心缺陷模移动。

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    引证文献
引用本文

刘启能,张翠玲,林睿,胡莉.多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响[J].重庆工商大学学报(自然科学版),2008,(4):
LIU Qi-neng, ZHANG Cui-ling, kiN Rui, HU ki. Influnce of multilayer doping on the one-dimensional photonic crystal defect mode[J]. Journal of Chongqing Technology and Business University(Natural Science Edition),2008,(4):

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