数字电路测试生成的二元判定图方法

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数字电路测试生成的二元判定图方法
DOI:
                        
                    
作者:
                        陈翎 潘中良陈翎 潘中良

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基金项目:国家自然科学基金(60006002)，广东省教育厅自然科学研究(02019)项目资助。

Binary decision diagram method for test generation of digital circuits

Author:

CHEN Ling,PAN Zhong-liang
CHEN Ling,PAN Zhong-liang

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摘要:

测试是保证电路系统可靠性的重要手段,已成为集成电路设计与生产的一个组成部分,研究了基于二元判定图的数字电路测试生成方法,对布尔函数的表示和操作的二元判定图进行研究,详细讨论了其中的ite算符;给出了基于二元判定图的电路测试生成方法的实现步骤,并用实例进行了说明。

关键词:数字电路,测试生成,二元判定图,布尔函数

Abstract:

Circuit test is an important technique to improve the reliability of digital circuits. The binary decision diagrams method for test pattern generation of digital circuits is studied in this paper. First of all, the binary decision diagram for the presenta

Key words:digital circuits,test generation,binary decision diagrams,Boolean functions.

引用本文

陈翎潘中良.数字电路测试生成的二元判定图方法[J].重庆工商大学学报（自然科学版）,2005,(3):
CHEN Ling, PAN Zhong-liang. Binary decision diagram method for test generation of digital circuits[J]. Journal of Chongqing Technology and Business University(Natural Science Edition）,2005,(3):

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